Центральноазиатский журнал академических исследований 4-jild 6-son (2026) · 38–45-betlar

SI VA SIO₂ SIRTLARIDA HOSIL QILINGAN SIME VA SIO₂SIME YUPQA PLYONKALARNING STRUKTURAVIY TUZILISHI HAMDA ULARNING ELEKTROFIZIK VA OPTIK PARAMETRLARINI KOMPLEKS TAHLILI.

Eshquvvatov, Habibullo

DOI: 10.5281/zenodo.20571014 · Manbada o'qish → · PDF (manba serverida)

Annotatsiya

Ushbu tadqiqotda Si va SiO₂ sirtlarida hosil qilingan SiMe va SiO₂SiMe tipidagi yupqa plyonkalarning strukturaviy tuzilishi, elektrofizik va optik xossalari kompleks ravishda tadqiq etildi. Yupqa plyonkalar zamonaviy depozitsiya usullari asosida sintez qilinib, ularning mikro- va nanostrukturasi, kimyoviy bog‘lanishlari hamda sirt morfologiyasi turli fizik tahlil usullari yordamida o‘rganildi. Olingan natijalar SiO₂ asosidagi plyonkalarning asosan amorf tuzilishga ega ekanligini, Si bilan modifikatsiyalangan tizimlarda esa nanokristall kremniy klasterlari hosil bo‘lishini ko‘rsatdi.Elektrofizik o‘lchovlar plyonkalarning elektr o‘tkazuvchanligi, dielektrik parametrlar va zaryad tashuvchilar transport mexanizmlarining ularning tarkibi va strukturaviy holatiga bevosita bog‘liqligini aniqladi. Xususan, Si miqdorining ortishi natijasida zaryad tashuvchilarning energiya to‘sig‘idan kvant yo‘l bilan o‘tish ehtimoli oshishi va o‘tkazuvchanlikning sezilarli darajada ortishi kuzatildi. 

Si nanostruktura, SiO₂, SiMe, sirt funksionalizatsiyasi, kvant cheklanish, rekombinatsiya, optik xossalar.

Metadata manbasi: jurnal OAI-PMH arxivi · Sindex to'liq matnni saqlamaydi, manbaga havola beradi.