«FarDU ilmiy xabarlari» 7-tom 1-san (2026)
SPS SINTERLANGAN TiSi2 INTERMETALL QOTISHMALARDA MIKROSTRUKTURAVIY VA FAZAVIY XOSSALARNING ELEKTR TRANSPORT XUSUSIYATLARIGA TA’SIRI
Бекпулатов, Илхом, Нормаматов, Абдусаттор, Игaмов, Бахром, Камардин, Алексей
Annotaciya
Ushbu ishda yuqori tozalikka ega TiSi₂ qotishmasi Spark Plasma Sintering (SPS) usuli yordamida tayyorlandi va uning mikrostrukturaviy, fazaviy, molekulyar va elektro fizik xossalari keng qamrovli tahlil qilindi. Boshlang‘ich yuqori tozalikdagi Ti va Si kukunlari stexiometrik nisbatda aralashtirilib, inert argon muhitida mexanik faollashtirildi. SPS sinterlash jarayoni yuqori vakuum sharoitida, impulsli tok va yuqori bosim yordamida amalga oshirildi, bu esa tezkor qattiq fazali reaksiyalar natijasida monofazali tetragonal C54 TiSi₂ tuzilishini hosil qildi. XRD tahlili materialning monofazali va yuqori kristall tozaligini, SEM tahlili esa birxil mikrostrukturani va minimal mikroporozlikni tasdiqladi. Raman spektroskopiyasi Ti–Si bog‘lanishlarining samarali shakllanishi va impuritlar yo‘qligini ko‘rsatdi. HMS 7000 yordamida o‘tkazilgan elektro fizik tahlillar TiSi₂ qotishmasining yuqori elektr o‘tkazuvchanligi, past resistivligi (~0,15 mΩ·cm), zaryad tashuvchilar harakatchanligi (~120 cm²/V·s) va barqaror dielektrik xossalarini tasdiqladi. Olingan natijalar shuni ko‘rsatadiki, SPS yordamida tayyorlangan TiSi₂ qotishmasi monofazali, yuqori kristall birxillik, birxil mikrostrukturaviy va barqaror elektro fizik xossalarga ega bo‘lib, yuqori haroratli elektronika, termoelektrik va mexanik-barqaror ilovalar uchun istiqbolli material hisoblanadi.
TiSi₂ qotishmasiSpark Plasma Sintering (SPS)Mikrostrukturaviy xossalarMonofazali tetragonal C54 strukturaElektro-fizik xossalarRaman spektroskopiyasiElektr o‘tkazuvchanlik.TiSi₂Spark Plasma Sintering (SPS)microstructural properties
Metadata derekkózi: jurnal OAI-PMH arxivi · Sindex tolıq mátindi saqlamaydı, derekkózge silteme beredi.