«FarDU ilmiy xabarlari» 29-jild 4-son (2023)
YUPQA KREMNIY VA KREMNIY OKSIDLI PLYONKALARNI FTIR TAHLILI
Normuradov, Muradulla, Dovranov, Kuvondik, Davranov, Khuzhamkul, Davlatov, Muzaffar
Annotatsiya
<p><em>FT-IR spektrometrlari zamonaviy analitikaning turli muammolarini hal qilish uchun ishlatiladi. Sifatli tahlil qilish, yupqa plyonkalarning sinishi indeksini, yupqa plyonkalarning qalinligini tekshirish uchun mo‘ljallangan. Biz ion-plazma usulida olingan o‘rta infraqizil uzatish va yutilish spektrlarini, sindirish ko‘rsatkichini, qatlam qalinligini, standart og‘ishini, tushish burchagini, o‘rtacha interferentsiya chekkalarini va kremniy va kislorod o‘rtasidagi bog‘lanishni o‘rgandik</em></p>
kremniy oksidiFT-IR spektrometriyupqa plyonkalaryutilish spektrlariuzatish spektrlari“ion-plazma” usulisinish indeksiATR spektrisilicon oxideFT-IR spectrometer
Metadata manbasi: jurnal OAI-PMH arxivi · Sindex toʻliq matnni saqlamaydi, manbaga havola beradi.