Ilim ha’m ja’miyet Issue 1 (2016) · pp. 16-19

ФИЗИЧЕСКИЕ МЕХАНИЗМЫ ДЕГРАДАЦИИ И НАДЁЖНОСТЬ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

Жалелов, М.А., Исмаилов, К.А., Абдиреймова, Г.Р., Аскаров, М.

Read at source

Abstract

The article deals with the issues of work and reliability of semi-conductor devices. On the basis of the analysis there have been shown the degradational processes in semi-conductor

яримўтказгичли асбоблармеханик кучланишнуқсонларполупроводниковые приборымеханическое напряжениедефектыsemiconductor devicesmechanical stressdefects

Metadata source: the journal's OAI-PMH archive · Sindex does not store the full text; it links to the source.

Cite

APA 7 
Жалелов, М.А., Исмаилов, К.А., Абдиреймова, Г.Р. & Аскаров, М. (2016). ФИЗИЧЕСКИЕ МЕХАНИЗМЫ ДЕГРАДАЦИИ И НАДЁЖНОСТЬ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ. Ilim ha’m ja’miyet, (1), 16-19.
GOST R 7.0.5 
Жалелов, М.А., Исмаилов, К.А., Абдиреймова, Г.Р., Аскаров, М. ФИЗИЧЕСКИЕ МЕХАНИЗМЫ ДЕГРАДАЦИИ И НАДЁЖНОСТЬ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ // Ilim ha’m ja’miyet. 2016. № 1. С. 16-19.
BibTeX 
@article{м.а.2016,
  author  = {Жалелов, М.А. and Исмаилов, К.А. and Абдиреймова, Г.Р. and Аскаров, М.},
  title   = {ФИЗИЧЕСКИЕ МЕХАНИЗМЫ ДЕГРАДАЦИИ И НАДЁЖНОСТЬ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ},
  journal = {Ilim ha’m ja’miyet},
  year    = {2016},
  number  = {1},
  pages   = {16-19}
}
RIS 
TY  - JOUR
AU  - Жалелов, М.А.
AU  - Исмаилов, К.А.
AU  - Абдиреймова, Г.Р.
AU  - Аскаров, М.
TI  - ФИЗИЧЕСКИЕ МЕХАНИЗМЫ ДЕГРАДАЦИИ И НАДЁЖНОСТЬ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
JO  - Ilim ha’m ja’miyet
PY  - 2016
IS  - 1
SP  - 16
EP  - 19
ER  -