«FarDU­ ilmiy xabarlari» 25-том 6-нөмір (2019)

(BIXSB1-X) 2TE3 ПОЛИКРИСТАЛЛ ТЕНЗОСЕЗГИР ПЛЕНКАЛАРНИНГ ЭЛЕКТРОНОГРАФИК ТАҲЛИЛИ

М.Ахмедов, Далиев, Х., Онаркулов, М.

Дереккөзден оқу

Аңдатпа

<p>Турли конденсация шароитида олинган Bi~Sb-T eтизимининг кристалл фазаларининг тузилиши ўрганилаган (конденсациятезлиги W, таглик ҳарорати Tn) ва дифракция қайтаришларинин гинтенсивлиги маълумотларидан текисликлараро масофаларни ҳисоблаш натижалари келтирилган.</p>

электронограммамикродифракциядифракцияқалинликпленкаинтенсивлик.electron diffraction patternmicrodiffractiondiffractedthickness

Метадеректер дереккөзі: журналдың OAI-PMH архиві · Sindex толық мәтінді сақтамайды, дереккөзге сілтеме береді.

Дәйексөз алу

APA 7 
М.Ахмедов, Далиев, Х. & Онаркулов, М. (2019). (BIXSB1-X) 2TE3 ПОЛИКРИСТАЛЛ ТЕНЗОСЕЗГИР ПЛЕНКАЛАРНИНГ ЭЛЕКТРОНОГРАФИК ТАҲЛИЛИ. «FarDU­ ilmiy xabarlari», 25(6).
GOST R 7.0.5 
М.Ахмедов, Далиев, Х., Онаркулов, М. (BIXSB1-X) 2TE3 ПОЛИКРИСТАЛЛ ТЕНЗОСЕЗГИР ПЛЕНКАЛАРНИНГ ЭЛЕКТРОНОГРАФИК ТАҲЛИЛИ // «FarDU­ ilmiy xabarlari». 2019. Т. 25. № 6.
BibTeX 
@article{м.ахмедов2019,
  author  = {М.Ахмедов and Далиев, Х. and Онаркулов, М.},
  title   = {(BIXSB1-X) 2TE3 ПОЛИКРИСТАЛЛ ТЕНЗОСЕЗГИР ПЛЕНКАЛАРНИНГ ЭЛЕКТРОНОГРАФИК ТАҲЛИЛИ},
  journal = {«FarDU­ ilmiy xabarlari»},
  year    = {2019},
  volume  = {25},
  number  = {6}
}
RIS 
TY  - JOUR
AU  - М.Ахмедов
AU  - Далиев, Х.
AU  - Онаркулов, М.
TI  - (BIXSB1-X) 2TE3 ПОЛИКРИСТАЛЛ ТЕНЗОСЕЗГИР ПЛЕНКАЛАРНИНГ ЭЛЕКТРОНОГРАФИК ТАҲЛИЛИ
JO  - «FarDU­ ilmiy xabarlari»
PY  - 2019
VL  - 25
IS  - 6
ER  -