«FarDU ilmiy xabarlari» 25-jild 6-son (2019)
(BIXSB1-X) 2TE3 ПОЛИКРИСТАЛЛ ТЕНЗОСЕЗГИР ПЛЕНКАЛАРНИНГ ЭЛЕКТРОНОГРАФИК ТАҲЛИЛИ
М.Ахмедов, Далиев, Х., Онаркулов, М.
Annotatsiya
<p>Турли конденсация шароитида олинган Bi~Sb-T eтизимининг кристалл фазаларининг тузилиши ўрганилаган (конденсациятезлиги W, таглик ҳарорати Tn) ва дифракция қайтаришларинин гинтенсивлиги маълумотларидан текисликлараро масофаларни ҳисоблаш натижалари келтирилган.</p>
электронограммамикродифракциядифракцияқалинликпленкаинтенсивлик.electron diffraction patternmicrodiffractiondiffractedthickness
Metadata manbasi: jurnal OAI-PMH arxivi · Sindex toʻliq matnni saqlamaydi, manbaga havola beradi.