«FarDU ilmiy xabarlari» Ҷилди 25 № 6 (2019)
(BIXSB1-X) 2TE3 ПОЛИКРИСТАЛЛ ТЕНЗОСЕЗГИР ПЛЕНКАЛАРНИНГ ЭЛЕКТРОНОГРАФИК ТАҲЛИЛИ
М.Ахмедов, Далиев, Х., Онаркулов, М.
Аннотатсия
<p>Турли конденсация шароитида олинган Bi~Sb-T eтизимининг кристалл фазаларининг тузилиши ўрганилаган (конденсациятезлиги W, таглик ҳарорати Tn) ва дифракция қайтаришларинин гинтенсивлиги маълумотларидан текисликлараро масофаларни ҳисоблаш натижалари келтирилган.</p>
электронограммамикродифракциядифракцияқалинликпленкаинтенсивлик.electron diffraction patternmicrodiffractiondiffractedthickness
Манбаи метамаълумот: бойгонии OAI-PMH-и маҷалла · Sindex матни пурраро нигоҳ намедорад, ба манбаъ пайванд медиҳад.