Ilim ha’m ja’miyet Issue 3 (2019) · pp. 10-12

ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H

Исмаилов, К., Косбергенов, Е., Жалелов, М.

Read at source

Abstract

The article shows the degradation processes after microwave annealing in diode structures.

диодли структурадеградациямикротўлқинли нурланишдиодная структурадеградациямикроволновое излучениеdiode structuredegradationmicrowave radiation

Metadata source: the journal's OAI-PMH archive · Sindex does not store the full text; it links to the source.

Cite

APA 7 
Исмаилов, К., Косбергенов, Е. & Жалелов, М. (2019). ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H. Ilim ha’m ja’miyet, (3), 10-12.
GOST R 7.0.5 
Исмаилов, К., Косбергенов, Е., Жалелов, М. ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H // Ilim ha’m ja’miyet. 2019. № 3. С. 10-12.
BibTeX 
@article{к.2019,
  author  = {Исмаилов, К. and Косбергенов, Е. and Жалелов, М.},
  title   = {ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H},
  journal = {Ilim ha’m ja’miyet},
  year    = {2019},
  number  = {3},
  pages   = {10-12}
}
RIS 
TY  - JOUR
AU  - Исмаилов, К.
AU  - Косбергенов, Е.
AU  - Жалелов, М.
TI  - ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H
JO  - Ilim ha’m ja’miyet
PY  - 2019
IS  - 3
SP  - 10
EP  - 12
ER  -