Ilim ha’m ja’miyet 3-san (2019) · 10-12-betler

ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H

Исмаилов, К., Косбергенов, Е., Жалелов, М.

Derekkózde oqıw

Annotaciya

The article shows the degradation processes after microwave annealing in diode structures.

диодли структурадеградациямикротўлқинли нурланишдиодная структурадеградациямикроволновое излучениеdiode structuredegradationmicrowave radiation

Metadata derekkózi: jurnal OAI-PMH arxivi · Sindex tolıq mátindi saqlamaydı, derekkózge silteme beredi.

Dáyeksóz alıw

APA 7 
Исмаилов, К., Косбергенов, Е. & Жалелов, М. (2019). ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H. Ilim ha’m ja’miyet, (3), 10-12.
GOST R 7.0.5 
Исмаилов, К., Косбергенов, Е., Жалелов, М. ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H // Ilim ha’m ja’miyet. 2019. № 3. С. 10-12.
BibTeX 
@article{к.2019,
  author  = {Исмаилов, К. and Косбергенов, Е. and Жалелов, М.},
  title   = {ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H},
  journal = {Ilim ha’m ja’miyet},
  year    = {2019},
  number  = {3},
  pages   = {10-12}
}
RIS 
TY  - JOUR
AU  - Исмаилов, К.
AU  - Косбергенов, Е.
AU  - Жалелов, М.
TI  - ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H
JO  - Ilim ha’m ja’miyet
PY  - 2019
IS  - 3
SP  - 10
EP  - 12
ER  -