Ilim ha’m ja’miyet 3-нөмір (2019) · 10-12-беттер

ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H

Исмаилов, К., Косбергенов, Е., Жалелов, М.

Дереккөзден оқу

Аңдатпа

The article shows the degradation processes after microwave annealing in diode structures.

диодли структурадеградациямикротўлқинли нурланишдиодная структурадеградациямикроволновое излучениеdiode structuredegradationmicrowave radiation

Метадеректер дереккөзі: журналдың OAI-PMH архиві · Sindex толық мәтінді сақтамайды, дереккөзге сілтеме береді.

Дәйексөз алу

APA 7 
Исмаилов, К., Косбергенов, Е. & Жалелов, М. (2019). ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H. Ilim ha’m ja’miyet, (3), 10-12.
GOST R 7.0.5 
Исмаилов, К., Косбергенов, Е., Жалелов, М. ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H // Ilim ha’m ja’miyet. 2019. № 3. С. 10-12.
BibTeX 
@article{к.2019,
  author  = {Исмаилов, К. and Косбергенов, Е. and Жалелов, М.},
  title   = {ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H},
  journal = {Ilim ha’m ja’miyet},
  year    = {2019},
  number  = {3},
  pages   = {10-12}
}
RIS 
TY  - JOUR
AU  - Исмаилов, К.
AU  - Косбергенов, Е.
AU  - Жалелов, М.
TI  - ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H
JO  - Ilim ha’m ja’miyet
PY  - 2019
IS  - 3
SP  - 10
EP  - 12
ER  -