Ilim ha’m ja’miyet № 3 (2019) · с. 10-12

ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H

Исмаилов, К., Косбергенов, Е., Жалелов, М.

Читать на сайте источника

Аннотация

The article shows the degradation processes after microwave annealing in diode structures.

диодли структурадеградациямикротўлқинли нурланишдиодная структурадеградациямикроволновое излучениеdiode structuredegradationmicrowave radiation

Источник метаданных: OAI-PMH архив журнала · Sindex не хранит полный текст, а даёт ссылку на источник.

Цитировать

APA 7 
Исмаилов, К., Косбергенов, Е. & Жалелов, М. (2019). ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H. Ilim ha’m ja’miyet, (3), 10-12.
GOST R 7.0.5 
Исмаилов, К., Косбергенов, Е., Жалелов, М. ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H // Ilim ha’m ja’miyet. 2019. № 3. С. 10-12.
BibTeX 
@article{к.2019,
  author  = {Исмаилов, К. and Косбергенов, Е. and Жалелов, М.},
  title   = {ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H},
  journal = {Ilim ha’m ja’miyet},
  year    = {2019},
  number  = {3},
  pages   = {10-12}
}
RIS 
TY  - JOUR
AU  - Исмаилов, К.
AU  - Косбергенов, Е.
AU  - Жалелов, М.
TI  - ДЕГРАДАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПОСЛЕ СВЧ ОТЖИГА В ДИОДНЫХ СТРУКТУРАХ С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ Au–TiBx–SiC 6H
JO  - Ilim ha’m ja’miyet
PY  - 2019
IS  - 3
SP  - 10
EP  - 12
ER  -